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玉崎科學(xué)WAFER/DISK ANALYZER 3650半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku射線膠片厚度 玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku射線膠片厚度 用于薄膜評(píng)估的熒光 射線分析儀 對(duì)各種薄膜的膜厚和成分進(jìn)行同步、無(wú)損、非接觸分析

玉崎科學(xué)AZX400半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku射線膠片厚度 玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku射線膠片厚度 用于薄膜評(píng)估的熒光 射線分析儀

玉崎科學(xué)XTRAIA MF-3000半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku射線膠片厚度 玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku射線膠片厚度 在線 射線膠片厚度/密度監(jiān)測(cè)儀

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玉崎科學(xué)XHEMIS EX-2000半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku射線膠片厚度 玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku射線膠片厚度 使用 射線熒光 (XRF) 和 射線反射 (XRR) 的非接觸式、非破壞性薄膜厚度和密度測(cè)量裝置

玉崎科學(xué)ONYX 3200半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku光學(xué)工具 玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku光學(xué)工具 內(nèi)聯(lián)雙頭微點(diǎn) XRF 無(wú)損晶圓檢測(cè)和計(jì)量 雙 X 射線源（多毛細(xì)管/單色）， 適用于最大 300 mm 的晶圓

玉崎科學(xué)ONYX 3000半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku光學(xué)工具 玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku光學(xué)工具 混合 XRF 和光學(xué)計(jì)量 FAB 工具 能量色散X射線熒光光譜儀（ED-XRF），能夠以無(wú)損、非接觸的方式同時(shí)分析300mm和200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。